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Carmar Technology Co.,Ltd
 
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1.    二次元測量儀


Video measuring system

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台智CNC 2.5D影像測量儀以二維測量為主,包括點、線、圓弧和矩形等幾何元素,以及零件的長度、角度、輪廓外形和表面形狀等。同時也能做2.5D測量,如臺階的高度、孔或槽的深度等,已廣泛的應用於機械.電子.儀錶.塑膠等行業。本公司全系列採用花崗岩平臺,外觀簡潔大方,結構穩定,防震效果佳,測量軟體功能齊全, 可應付各種產業二維尺寸測量的需求。


VMM-C系列CNC型影像測量儀,具有以下優越的特點:
1. 支援自動對焦、搖桿操作、以及接觸式探針測量
2. 軟體支援強大元素構造, 多元化測量方法 (自動尋邊、對比測量以及局部放大採點)等
3. 嵌入式模組伺服控制驅動馬達,機電回應速度快速。
4. 雙重閉環運動控制,具有精確的高速運動定位性能。
5. 精簡化儀器與電腦介面。
6. 花崗岩平臺, 結構穩定, 抗振性能力佳。
7. 獨立控制的表面與底光光源。
8. 配有專用CNC二維量測軟體,具教導功能可大幅提高批量測量效率。
9. 進口滾珠驅動螺桿與滑軌,機械性能佳。
10. 國外品牌 SONY 攝像機與光學變焦鏡頭。
11. 具高精密鏡頭選配模組,光學解析度達0.6微米

2.    光學尺


Linear scale

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台智 光學尺

標準型光學尺
Sealed Standard Type Linear Scale

產品特色:
滑動部採用5組軸承定位重覆性優異
多層隔離線網及金屬軟外殼信號線,防水及抗干擾性優良
陽極處理鋁合金型材尺身
合金壓鑄尺頭鍍耐腐蝕硬鉻
防塵片採用特種塑膠,耐腐蝕、耐刮傷,磨擦阻力小
部件個體化,安裝、維護、保養簡易
防水、防塵性良好,使用壽命長
3.    開放式反射尺


Open Type Reflection Linear encoder

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開放式高速光學尺

Open Type non-contact Linear encoder





產品特色:

1. 非接觸量測

2. 安裝允差大﹐安裝容易

3. 高速響應

4. 內藏電子細分割專用IC

5. 內含參考訊號(RI)



GPS 40R 系列規格

光柵柵距: 40 µm
解析度: 0.005 mm(5µm), 0.001 mm(1µm), 0.0005 mm(0.5µm),
測量長度 (ML): 50 mm ~ 1,000mm
訊號輸出方式: A, B與RI訊號,5V, TTL 方波
重覆精度: ± 5 µm/m
最大輸出響應頻率: 1 µm解析度, 5 m/sec, 5 µm解析度, 10 m/sec
訊號線長度: 信號線長度為3 m (標準), 可依客戶需求提供
工作溫度: 0℃~ +40℃
存儲溫度: -20℃~ +50℃
主光柵尺材質: 具背膠玻璃尺
4.    工具顯微鏡


Optical measuring microscope

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優越特色:

影像式工具顯微鏡具有多種數據測量、顯微放大、顯示、輸入和輸出等數據處理功能。
採用檢測專業彩色CCD攝像機裝置。
機體與電腦連接,備有RS232通訊接口,能輸入輸出測量結果、數據和存儲圖像。
Windows XP作業平台的專業測量軟體M2D-AT ,具有自動尋邊的功能,只要點擊滑鼠即可測量,使用簡單方便。

5.    數顯表


Digital Readout

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機床型數位顯示器 SW-4000 系列
Machine Tool Type Digital Readout

型號:
SW-4000-2 兩軸數顯表
SW-4000-3 三軸數顯表
SW-4000-E 放電加工機專用數顯表
6.    光學投影機


Optical profile projector

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數位式測量投影機
數位式光學投影機是整合光、機、電於一體的精密高效能測量儀器,廣泛用於機械、儀錶、電子、輕工等行業, 以及院校、研究所和計量檢定部門。測量投影機能高效率地檢測各種形狀複雜工件的輪廓尺寸和表面形狀,如樣板、衝壓件、凸輪、螺紋、齒輪、彈簧、成型銑刀等。正像機型的投影影像無上下左右顛倒,符合人的操作習慣。

優越特色:
1. 儀器光學系統品質優良,物鏡成像清晰,放大倍率準確。
2. 在透射光照明下,輪廓測量誤差小於0.08% 。
3. 儀器配有專用微型印表機和腳踏開關,資料輸出和採樣十分方便。
4. 工件影像可以是全正像也可為倒像。
7.    開放性光學尺


Open linear encoder

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開放式光學尺
GPS 20R 系列
GPS 40R 系列

產品特色:
非接觸量測
安裝允差大﹐安裝容易
高速響應
內藏電子細分割專用IC
內含RI訊號
8.    白光干涉儀


3D Optical Profiler

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表面粗度測定儀的檢測應用

結合光學顯微鏡與表面輪廓儀的功能的非接觸式白光干涉顯微鏡 ,又稱表面粗度儀,結合顯微物鏡與干涉儀,不需要複雜光路調整程序,兼顧體積小、奈米解析度、易學易用等優點,可提供垂直掃描高度達400μm之微三維量測,量測速度優於傳統的AFM,適合各種材料與微元件表面特徵和微尺寸檢測。


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